‍EDXRF熒光光譜EDX9000A合金分析儀測(cè)定白銅合金‍

直接用白銅合金片樣定性掃描測(cè)定Ni,Cu和Zn的X一射線熒光強(qiáng)度值,作強(qiáng)度歸一化可以半定量確定主量元素質(zhì)量百分?jǐn)?shù)(%),結(jié)果發(fā)現(xiàn)元素之間有明顯的吸收-增強(qiáng)效應(yīng).改用溶液濾紙片薄膜制樣測(cè)定,強(qiáng)度歸一化的計(jì)算 值與試樣元素的推薦值十分吻合,說(shuō)明元素之間的吸收-增強(qiáng)效應(yīng)基本消除,研究的方法精確度高，重復(fù)性好，滿足客戶測(cè)試需求。

譜處理方式: 譜經(jīng)數(shù)字濾波扣除本底和重疊峰, 用XML峰擬合法提取峰的凈強(qiáng)度.

定量分析: 采用基本參數(shù)法 (FP). 能校正基體效應(yīng). 此法具有下列特點(diǎn), 非常適合于定量分析:

•可以使用與樣品成份不同的標(biāo)樣.

•減少了準(zhǔn)確分析所需的標(biāo)樣數(shù).

•可以對(duì)整個(gè)樣品或者部分分析元素進(jìn)行無(wú)標(biāo)樣分析. 例如, 分析 Bi 時(shí)用 Pb校正, 分析 Sb時(shí)用

Sn校正.

結(jié)果

使用一套5個(gè)MBH白銅標(biāo)樣進(jìn)行分析. 對(duì)FP法而言, 此標(biāo)樣數(shù)已經(jīng)是多了. 很容易得到可靠的工作曲線. 從Pb and Zn的曲線也可以看出, 少幾個(gè)標(biāo)樣也不會(huì)降低方法的準(zhǔn)確度

可以調(diào)節(jié)計(jì)數(shù)時(shí)間達(dá)到所要的分析精度. 還可以修改輕元素的激發(fā)條件 (對(duì)Al, Si)對(duì)方法加以改進(jìn). 由于樣品可能有不均勻性– 例如, 鉛或鋅的分布, 應(yīng)考慮適當(dāng)?shù)臉悠分苽湟缘玫秸?有代表性的結(jié)果.

結(jié)論

報(bào)告的數(shù)據(jù)表明EDXRF合金分析儀EDX9000A光譜儀能夠容易地測(cè)定各種銅合金的成份, 每個(gè)樣品的分析時(shí)間不超過(guò)3分鐘

EDX9000A真空型臺(tái)式X射線合金分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)

作為一款專業(yè)為合金元素分析而設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的光譜儀，EDX-9000A兼顧了耐用性，易于操作和高性價(jià)比。其顯著優(yōu)勢(shì)主要有

•更快---全程無(wú)損分析，一到三分鐘即可出結(jié)果（可實(shí)時(shí)刷新測(cè)試結(jié)果）

•更準(zhǔn)---強(qiáng)大的基于Windows的FP（基本參數(shù)算法）軟件降低了基體元素間吸收增強(qiáng)效應(yīng)，并同時(shí)考慮到不同基體對(duì)光譜強(qiáng)度變化的干擾，把測(cè)試準(zhǔn)確度提高到了新的水平

•更穩(wěn)---使用新的硅漂移檢測(cè)器SDD可得到更好的測(cè)試穩(wěn)定性和長(zhǎng)期重復(fù)性，該款檢測(cè)器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得更高的光譜強(qiáng)度（計(jì)數(shù)率CPS）。多道分析器DPP可實(shí)現(xiàn)超過(guò)100,000 cps的線性計(jì)數(shù)速率而同時(shí)保證優(yōu)秀的光譜分辨率，通常優(yōu)于130 eV，以更好地分離不同元素的光譜。與傳統(tǒng)的EDXRF臺(tái)式儀器相比，EDX9000A光譜儀可以全功率運(yùn)行，因此實(shí)現(xiàn)了更精準(zhǔn)的測(cè)試表現(xiàn)

銅合金測(cè)試譜圖